EVO MA

Производитель

Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss Microscopy GmbH

Описание

Серия EVO - это линейка электронных микроскопов с вольфрамовым катодом (W) или с катодом из гексаборида лантана(LaB6).
Серия разработана специально для рутинных исследований и анализа, как на промышленных предприятиях, так и в научно-исследовательских лабораториях и центрах коллективного пользования.
Для всей линейки опционально реализована возможность исследования грязных и плохо проводящих образцов при пониженном давлении (давление в камере до 400 Па) и в естественных условиях (давление в камере до 3000 Па). Пониженное давление также находит применение при исследованиях газящих и биологических образцов, а также в статистике отказов деталей и узлов.
ZEISS EVO обеспечивает лучшие в своем классе высококачественные данные, особенно для непроводящих частей, которые не могут быть покрыты проводящим слоем из-за необходимости последующего контроля.


Задачи и области применения

Аэрокосмическая и автомобильная промышленность:
  • Рутинный анализ для обеспечения требований качества и долговечности изготовленных компонент;
  • Изображения и анализ структуры металлов, трещин;
  • Исследования неметаллических включений в стали, изломов, границ зерен, дислокаций и дефектов упаковки;
  • Анализ отказов, исследования коррозии металлов;
  • Идентификация фаз; 
  • Анализ термостойкости и характеристик покрытий и композитных материалов;
  • Анализ композитных материалов, покрытий и текстиля; 
  • Проверка чистоты производимых компонентов. Автоматический анализ частиц и определение морфологии и химического анализа для соответствия стандарту ISO 16232Metals & Steels
Исследования сырья:
  • Морфология, минералогия и анализ состава геологических образцов;
  • Анализ железосодержащих и алюминиевых сплавов, в том числе высококристаллической ферритмартенситной стали, сильнолегированной высокопрочной стали для сварки, литого чугуна в отливке и аустенированных и высокопрочных алюминиевых сплавов;
  • Качественная диагностика и определение химического состава металлических порошков, сплавов и соединения;
  • Анализ размеров и формы зёрен, слагающих тонкодисперсные руды и минералы; 
  • Выявления микро-трещин и систем микродислокаций в деформированных породах и минералах;
  • Обнаружения треков – следов повреждений, образовавшихся в процессе радиоактивного распада при движении заряженных элементарных частиц в минералах (по длине и плотности треков можно оценивать возраст минералов.
Наука о материалах:
  • Анализ кристаллографической огранки зёрен, степени их совершенства;
  • Наличия фрагментированных кристаллов, разделённых на домены, что является следствием фазовых превращений в кристаллах;
  • Наличия субмикроскопических двойников и ламелей распада твёрдых растворов;
  • Анализ структурных керамических материалов и передовых стекол;
  • Исследования наночастиц, нанотрубок, структуры ядра-оболочек;
  • Исследования гетероструктуры и поверхности тонких пленок;
  • Цеолиты, каталитические материалы;
  • Композиты и полимеры;
  • Исследование кристаллической структуры и поверхности металлических проволок.
Криминалистика:
  • Сбор и анализ доказательств с мест преступлений, в том числе анализ следов огнестрельных выстрелов (GSR), анализ краски и стекла, банкнот и монет, сравнение волос и волокон;
  • Судебная токсикология, палинология;
  • Доказательства сексуального насилия и анализ ДНК 
Наука о жизни:
  • Исследование растений, животных и микроорганизмов;
  • Исследования влажных образцов без артефактов дегидратации, а также процессов увлажнения и переувлажнения;
  • Получение изображений грибков и бактерий в их естестественном состоянии;
  • Получение изображений контрастирорванных вирусов и частиц бактериофагов;
  • Получение 3D изображений больших объемов биоматериалов с помощью последовательного получения ультратонких срезов в камере микроскопа
Полупроводниковая электроника:
  • Получение изображений электронных компонентов, интегральных схем, устройств MEMS;
  • Исследования солнечных элементов;
  • Исследования элементов питания;
  • Исследования качества металлизации и гальванопокрытий;
  • Анализ отказов электронных компонентов;
  • Исследования механических и электрических свойств электронных компонентов;
  • Исследования приборов одноэлектроники. 
Химия:
  • Морфологический и композиционный анализ химического сырья и активных ингредиентов во время процессов микронизации и грануляции;
  • Изучение химических реакций in-situ;
  • Динамические исследования материалов в естественном состоянии;
  • Исследования катализаторов, полимеров и композитов, а также новых синтетических материалов;
  • Исследования процессов гетерогенного кристаллообразования;
  • Гидратация, химия и минералогия цемента;
  • Получение распределений элементного состава объемных материалов с латеральным разрешением в несколько мкм

Теги